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三綜合環(huán)境試驗箱（溫度、濕度、振動）
- 產(chǎn)品型號：DE-THVCT1000
- 更新時間：2022-11-17
- 瀏覽次數(shù)：4376
- 產(chǎn)品簡介：三綜合環(huán)境試驗箱（溫度、濕度、振動）模擬溫度、濕度氣候試驗與振動等力學(xué)應(yīng)力試驗集成一體。
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產(chǎn)品簡介
| 品牌 | 其他品牌 | 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,能源,電子/電池,航空航天,汽車及零部件 |
詳細介紹
DE-THVCT系列三綜合環(huán)境試驗箱（溫度、濕度、振動）模擬溫度、濕度氣候試驗與振動等力學(xué)應(yīng)力試驗集成一體。試驗系統(tǒng)工作時，將(高溫或低溫，溫度變化) 濕度、振動以按規(guī)定的組合方式和周期性空間，同時或分別施加到樣品上，與單一試驗作用相比，具有環(huán)境模擬更真實、試驗效率更高等優(yōu)點，現(xiàn)已廣泛應(yīng)用于航空航天、船舶、汽車、電池等電子產(chǎn)品對環(huán)境適應(yīng)性，使用可靠性的考核與評定，應(yīng)用于電子產(chǎn)品設(shè)計缺陷的早期發(fā)現(xiàn)及工藝缺陷的篩選場合。
三綜合環(huán)境試驗箱主要依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)和試驗方法
| * GB2423.1-2008/IEC6008-2-1-2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法 試驗A：低溫 *GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：高溫 *GJB150.3A－2009 高溫試驗方法 *GJB150.4A－2009 低溫試驗方法 * GB2423.22-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分 試驗方法 試驗Nb：規(guī)定溫度變化速率的溫度變化 | *GB/T2423.3-2008(IEC68-2-3) 試驗Ca:恒定濕熱試驗方法 *GJB150.9A-2009 濕熱試驗方法 *G/BT 2423.4-2008/IEC6008-2-30:2005 試驗Db:交變濕熱方法 *GB/T5170.18-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方溫度/濕度組合循環(huán)試驗設(shè)備 *GB/T10586-2006濕熱試驗箱技術(shù)條件 *GB/T 10589-2008 低溫試驗箱技術(shù)條件 |
三綜合環(huán)境試驗箱技術(shù)參數(shù)
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